ISO 16700:2004
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Reference number
ISO 16700:2004
Версия 1
2004-03
© ISO 2024
В время отменен
Отозвано (Версия 1, 2004)

Тезис

ISO 16700:2004 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2004-03
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 4
    ICS :
    37.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 16700:2004