ISO 11562:1996
w
ISO 11562:1996
21977

Текущий статус : Отозвано

Это стандарт пересмотренISO 16610-21:2011

Тезис

Describes the metrological characteristics of phase correct filters for the measurement of surface profiles. In particular it specifies how to separate the long and short wave content of a surface profile.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 1996-12
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 213
    17.040.20 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)