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Norme et/ou projet | Stade | TC |
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Optique et photonique — Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 1: Méthode de la déviation minimale
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90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 1: Méthode de la déviation minimale
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40.00 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 2: Méthode interférométrique
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60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Partie 1: Huile d'immersion pour usage général en microscopie optique
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Partie 1: Huile d'immersion pour usage général en microscopie optique
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Microscopes — Liquides d'immersion pour microscopie optique
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Liquides d'immersion pour microscopie optique
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lames porte-objet — Partie 1: Dimensions, propriétés optiques et marquage
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lames porte-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage
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90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lames porte-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage — Rectificatif technique 1
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60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants — Partie 1: Filetage de type RMS (4/5 in x 1/36 in)
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Filetages de fixation des objectifs pour microscopes et des porte-objectifs correspondants — Partie 2: Filetage de type M25 X 0,75 mm
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Filetage de fixation des objectifs
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Grossissement
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Valeurs, tolérances et symboles de grossissement
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Valeurs, tolérances et symboles de grossissement
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90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Cotes de liaison entre les tirettes et leurs logements
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Dimensions de liaison des tirettes et des logements de tirette
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Spécification des verres de chalcogénure utilisés dans le spectre infrarouge
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60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 1: Tolérances dimensionnelles, épaisseur et propriétés optiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 1: Tolérances dimensionnelles, épaisseur et propriétés optiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 1: Tolérances dimensionnelles, épaisseur et propriétés optiques
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage
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90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Système de référence en microscopie de polarisation
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Filtres colorés
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Marquage des objectifs et des oculaires
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Marquage des objectifs et des oculaires — Rectificatif technique 1
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Marquage des objectifs et des oculaires
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90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Endoscopes — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 1: Exigences générales
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40.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 5: Détermination de la résolution optique des endoscopes optiques rigides
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 5: Détermination de la résolution optique des endoscopes optiques rigides
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60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 6: Vocabulaire
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Endoscopes — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 6: Vocabulaire
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60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Endoscopes — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 8: Exigences particulières pour les endoscopes à capsule
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60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 1: Définitions, portée des essais
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 1: Définitions, portée des essais
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 1: Définitions, portée des essais
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur, humidité
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité — Amendement 1
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60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques — Amendement 1
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques
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60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin
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90.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin — Amendement 1
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60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 5: Essais combinés froid-basse pression
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 6: Poussière
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 6: Poussière
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 7: Ruissellement, pluie
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 7: Ruissellement, pluie — Rectificatif technique 1
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais environnementales — Partie 7: Résistance au ruissellement ou à la pluie
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais environnementales — Partie 7: Résistance au ruissellement ou à la pluie
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 8: Haute pression, basse pression, immersion
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 8: Pression interne élevée, pression interne faible, immersion
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 9: Rayonnement solaire
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 9: Rayonnement solaire et désagrégation
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 10: Essai combiné de vibrations sinusoïdales-chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 10: Essai combiné de vibrations sinusoïdales et chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 11: Moisissures
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 11: Moisissures
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 12: Contamination
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 12: Contamination
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 13: Essai combiné choc, secousse ou chute libre-chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 13: Essai combiné choc, secousse ou chute libre et chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 14: Rosée, givre, glace
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 14: Rosée, givre, glace
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 15: Essai combiné vibrations aléatoires à large bande (reproductibilité moyenne)-chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 15: Essai combiné vibrations à large bande (asservissement numérique) et chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 16: Essai combiné secousse ou accélération constante-chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 16: Essai combiné secousse ou accélération constante et chaleur sèche ou froid
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 17: Essai combiné contamination-rayonnement solaire
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 17: Essai combiné contamination-rayonnement solaire
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 18: Essai combiné chaleur humide-pression interne basse
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 19: Essai combiné cycles de températures-vibrations sinusoïdales ou aléatoires
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 20: Atmosphère humide contenant du dioxyde de soufre ou de l'hydrogène sulfuré
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 20: Atmosphère humide contenant du dioxyde de soufre ou de l'hydrogène sulfuré
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 21: Essai combiné basse pression et température ambiante ou chaleur sèche
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 22: Chaleurs sèche, froide ou changement de température combinés avec choc ou vibration aléatoire
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Essais combinés basse pression et froid, température ambiante et chaleur sèche et humide
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Basse pression combinée à la température ambiante et froide et à la chaleur sèche ou humide
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Basse pression combinée à la température ambiante et froide et à la chaleur sèche ou humide
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60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion — Rectificatif technique 1
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 1: Définitions
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 1: Définitions
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 1: Vocabulaire
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 1: Vocabulaire
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60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 2: Propriétés optiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 2: Propriétés optiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 2: Propriétés optiques
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60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 3: Comportement aux essais d'environnement
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 3: Durabilité environnementale
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 3: Durabilité environnementale
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60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques: abrasion, adhérence et résistance à l'eau
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60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 5: Exigences minimales pour revêtements anti-réfléchissants
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90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 6: Exigences minimales pour revêtements réfléchissants
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90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 7: Exigences minimales pour les traitements optiques séparateurs de faisceaux neutres
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95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 7: Exigences minimales pour les traitements optiques séparateurs de faisceaux neutres
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60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 8: Exigences minimales pour revêtements utilisés pour l'optique laser
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90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 2: Objectifs pour photocopieurs de bureau
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 3: Télescopes
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95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 3: Télescopes
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60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Réticules pour oculaires
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Réticules pour oculaires
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Réticules pour oculaires
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 1: Tubes de 160 mm de longueur
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 1: Longueur de tubes de 160 mm
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 2: Systèmes d'optique corrigés à l'infini
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 2: Systèmes d'optique corrigés à l'infini
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Dimensions d’interfaçage pour composants d’imagerie
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90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure
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90.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 1: Informations générales, définitions, zones climatiques et leurs paramètres
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 1: Vue d'ensemble générale, termes et définitions, zones climatiques et leurs paramètres
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Prescriptions d'environnement — Partie 4: Prescriptions d'essai pour les systèmes télescopiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 6: Spécifications d'essai pour les appareils optiques médicaux
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 6: Exigences d'essai pour les instruments optiques médicaux
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 7: Spécifications d'essai pour instruments de mesure optiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 8: Spécifications d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 8: Exigences d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 11: Instruments optiques pour conditions d'utilisation en extérieur
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 12: Conditions de transport des instruments optiques
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et photonique — Directives relatives au choix des essais environnementaux
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et photonique — Directives relatives au choix des essais environnementaux
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et photonique — Directives relatives au choix des essais environnementaux
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60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 1: Généralités
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 1: Généralités
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 1: Généralités
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90.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 2: Imperfections des matériaux — Biréfringence sous contrainte
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 3: Imperfections des matériaux — Bulles et inclusions
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 4: Imperfections des matériaux — Hétérogénéités et stries
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface — Rectificatif technique 1
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface
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90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage et d'inclinaison
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40.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage — Rectificatif technique 1
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage
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90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Tolérances d'imperfection de surface
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Tolérances d'imperfection de surface
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Imperfections de surface
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface; rugosité et ondulation
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface
|
90.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 10: Tableau représentant les données d'une lentille
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 10: Tableau représentant les données d'éléments optiques et d'assemblages collés
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées — Rectificatif technique 1
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées
|
50.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques — Amendement 1
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques
|
90.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indication sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation des fronts d'onde
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 16: Surfaces diffractives
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60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 18: Biréfringence sous contrainte, bulles et inclusions, homogénéité, et stries
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 19: Description générale des surfaces et des composants
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif à la microscopie — Partie 1: Microscopie optique
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif à la microscopie — Partie 2: Techniques avancées en microscopie optique
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Vocabulaire relatif à la microscopie optique
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90.92 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Vocabulaire relatif à la microscopie optique
|
40.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Raccord d'interface de type C
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Raccord d'interface de type C
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes chirurgicaux — Partie 1: Exigences et méthodes d'essai
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Microscopes chirurgicaux — Partie 1: Exigences et méthodes d'essai
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes chirurgicaux — Partie 2: Danger de la lumière provenant des microscopes opératoires utilisés en chirurgie oculaire
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95.99 | ISO/TC 172/SC 7 |
Optique et photonique — Microscopes chirurgicaux — Partie 2: Danger de la lumière provenant des microscopes opératoires utilisés en chirurgie oculaire
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 7 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Diamètre d'optiques interchangeables pour microscopes de longueur de tube 160 mm
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Diamètre d'oculaires interchangeables
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Caractérisation des matériaux optiques utilisés dans la bande spectrale infrarouge de 0,78 µm à 25 µm
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Caractérisation des matériaux optiques utilisés dans la bande spectrale infrarouge de 0,78 µm à 25 µm
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Raccord d'interface pour appareils photographiques SLR de 35 mm (adaptateur à filetage en T)
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Marquage des stéréomicroscopes
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Prescriptions minimales pour les stéréo-microscopes — Partie 1: Stéréo-microscopes à usage général
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Exigences minimales pour les stéréomicroscopes — Partie 1: Stéréomicroscopes à usage général
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Prescriptions minimales pour les stéréomicroscopes — Partie 2: Microscopes à haute performance
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Exigences minimales pour les stéréomicroscopes — Partie 2: Microscopes à hautes performances
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur
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95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur
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90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Lasers et équipement associé aux lasers — Méthodes d'essai des caractéristiques spectrales des lasers
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 9 |
Optique et photonique — Lasers et équipement associé aux lasers — Méthodes d'essai des caractéristiques spectrales des lasers
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 9 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes — Rectificatif technique 1
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 3: Termes pour lunettes de pointage
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 3: Termes pour lunettes de pointage
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 3: Termes pour lunettes de pointage
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 4: Termes pour télescopes astronomiques
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 4: Termes pour télescopes astronomiques
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 5: Termes pour les dispositifs de vision de nuit
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 2: Instruments haute performance
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 2: Instruments haute performance
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Instruments d'usage général et haute performance
|
40.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour télescopes astronomiques
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 1: Méthodes d'essai des caractéristiques fondamentales
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 2: Méthodes d'essai pour systèmes binoculaires
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 4: Méthodes d'essai pour télescopes astronomiques
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission — Amendement 1
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 7: Méthodes d'essai pour limite de résolution
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 7: Méthodes d'essai pour limite de résolution
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes téléscopiques — Partie 8: Méthodes d'essai pour dispositifs de vision de nuit
|
90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 9: Méthodes d'essai pour la courbure de champ
|
90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 10: Méthodes d'essai pour la performance de couleur axiale
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques — Partie 2: Visionique
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 3: Étalonnage et validation des équipements d'essai interférométrique
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques — Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques — Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Essai des stéréomicroscopes
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Stéréo-microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Stéréo-microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur
|
90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Analyse par microfaisceaux — Spécifications instrumentales pour spectromètres de rayons X à sélection d'énergie avec détecteurs à semi-conducteurs
|
95.99 | ISO/TC 202 |
Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques — Rectificatif technique 1
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Vocabulaire
|
90.60 | ISO/TC 202/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image
|
95.99 | ISO/TC 202/SC 4 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image
|
90.93 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Capteurs de front d'onde pour caractérisation des systèmes optiques et des composants optiques
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai de l'indice de réfraction des matériaux optiques infrarouges
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai de l'indice de réfraction des matériaux optiques infrarouges
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai d'homogénéité des verres optiques par interférométrie laser
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai d'homogénéité des verres optiques par interférométrie laser
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Microscopes — Microscopes avec écrans d'affichage numérique — Informations fournies à l'utilisateur concernant la performance d'affichage
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Microscopes avec écrans d'affichage numérique — Informations fournies à l'utilisateur concernant la performance d'affichage
|
40.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Désignation des objectifs de microscope — Partie 1: Planéité du champ/Plan
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 1: Planéité du champ/Plan
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 1: Planéité du champ/Plan
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Désignation des objectifs de microscope — Partie 2: Correction chromatique
|
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 2: Correction chromatique
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 3: Facteur de transmission spectrale
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 4: Caractéristiques de polarisation
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Exigences minimales pour tubes binoculaires
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Définition et mesurage des propriétés d'éclairage — Partie 1: Luminosité et uniformité de l'image en microscopie à champ clair
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Définition et mesurage des propriétés d'éclairage — Partie 2: Propriétés d'illumination liées à la couleur en microscopie à champ lumineux
|
90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Définition et mesurage des propriétés d'éclairage — Partie 3: Microscopie par fluorescence à lumière incidente avec sources lumineuses incohérentes
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer l’homogénéité des matériaux optiques infrarouges
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer les stries des matériaux optiques infrarouges
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer les stries des matériaux optiques infrarouges
|
40.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer les impuretés des matériaux optiques infrarouges
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches
|
95.99 | ISO/TC 202/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches
|
60.60 | ISO/TC 202/SC 3 |
Optique et photonique — Bandes spectrales
|
90.93 | ISO/TC 172 |
Optique et photonique — Prescriptions d'environnement — Prescriptions d'essai pour les systèmes télescopiques
|
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Microscopes — Microscopes confocaux — Données optiques des microscopes confocaux à fluorescence pour l'imagerie biologique
|
90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Systèmes télescopiques — Spécifications pour dispositifs de vision de nuit
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
Analyse par microfaisceaux - Microscopie électronique à balayage - Qualification du microscope électronique à balayage pour des mesures quantitatives
|
90.60 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Méthode d’essai pour déterminer l’indice de réfraction des verres optiques — Partie 1: Méthode de la déviation minimale
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Méthode d'essai pour l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 2: Méthode du réfractomètre à blocs en V
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Méthode d’évaluation des dimensions critiques par CD-SEM
|
90.20 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Préparation des plans pour les éléments et systèmes optiques — Spécification des imperfections de surface et systèmes de mesure
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai sur poudre pour déterminer la résistance à l'eau des verres optiques
|
90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Vocabulaire
|
95.99 | ISO/TC 202/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Vocabulaire
|
90.60 | ISO/TC 202/SC 1 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai pour la résistance climatique du verre optique
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Spécification de fluorure de calcium utilisé dans le spectre infrarouge
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Filtres optiques à absorption de masse
|
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Spécification d'un dictionnaire de référence — Partie 1: Aperçu général sur l'organisation et la structure
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90.20 | ISO/TC 172 |
Optique et photonique — Spécification d'un dictionnaire de référence — Partie 2: Définitions des classes et des propriétés
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90.60 | ISO/TC 172 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Méthodes d'évaluation de la netteté d'image
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90.93 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 1: Modèle de données NODIF
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95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 1: Modèle de données NODIF
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 2: Mappage des classes et propriétés definies dans l'ISO 23584
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90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique en transmission analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques
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95.99 | ISO/TC 202/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques
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95.99 | ISO/TC 202/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques
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60.60 | ISO/TC 202/SC 3 |
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