Filtre :
Norme et/ou projet sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 9 Secrétariat | Stade | ICS |
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Titre manque
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40.00 | |
Analyse chimique des surfaces — Microscopie par sonde à balayage — Mesurage du taux de dérive
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90.93 | |
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Détermination de constantes normales en porte-à-faux de ressort
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90.93 | |
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
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95.99 | |
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
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90.93 | |
Analyse chimique des surfaces - Microscopie à sonde à balayage - Normes sur la définition et l'étalonnage de la résolution spatiale des microscopes électriques à sonde à balayage (ESPMs) comme SSRM et SCM pour l'imagerie 2D-dopant et d'autres fins
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90.93 | |
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à balayage de sonde — Procédure pour la caractérisation in situ des sondes AFM utilisées pour mesurer la nanostructure
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90.93 | |
Titre manque
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20.00 |
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Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for quantitative nanoscale potential measurement by Kelvin probe force microscopy
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30.98 |
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Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde locale — Lignes directrices pour la détermination des modules d’élasticité des matériaux souples en utilisant un microscope à force atomique
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60.60 | |
Titre manque
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20.99 | |
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à force atomique — Lignes directrices relatives au mode opératoire de restauration des images de microscopie à force atomique dilatées par la taille finie de la sonde
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60.60 | |
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Définition et étalonnage de la résolution latérale d'un microscope optique en champ proche
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90.93 |
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